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資訊動態

(X-ray Photoelectron Spectroscopy) u XPS的發展X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析電子能譜(ESCA)。該方法首先是在六十年代由瑞典科學家K.Siebabn 教授發展起來的。這種能譜最初是被用來進行化學元素的定性分析,現在已發展為表面元素定性、半定量分析及元素化學價態分析的重要手段。此外,配合離子束剝離技術和變角…
在當代迅速發展的科學技術中,科學家需要觀察、分析和正確的解釋在一個微米或亞微米范圍內所發生的現象,掃面電鏡是強有力的儀器,可用來觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、亞微米局部范圍內的表面特征。在掃描電鏡中,人們最感興趣的信號是二次電子和背散射電子,因為當電子束在樣品表面掃描時,這些信號隨表…
XRD即X-Ray Diffraction(X射線衍射)的縮寫。X射線衍射是一種通過儀器進行檢測的光學分析法,將單色X射線照到粉晶樣品上,若其中一個晶粒的一組面網取向和入射X射線夾角為θ時,滿足衍射條件,則在衍射角2θ處產生衍射。樣品中有多個晶粒并滿足衍射。通過使用粉晶衍射儀的探測器以一定的角度繞樣品旋轉,接收到粉晶中不同網…
請簡要說明樣品基本信息樣品里面有什么,使用過何種合成手段,合成目的是什么,否則的話有可能判斷失誤請盡可能多的提供樣品信息 有些人擔心樣品測試過程中實驗信息泄密,因此不想將合成過程或樣品信息寫出。我們理解這種擔心,所以我們不說:“這種擔心毫無必要。” 但是,樣品檢測還是需要獲知最基本的樣品信息,諸如樣品里…
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