聯系我們

場發射掃描電子顯微鏡 (Zeiss Merlin )


儀器名稱

場發射掃描電子顯微鏡

(Zeiss Merlin )

 

型號

德國蔡司

Merlin

主要規格

及技術指標

1. 分辨率:高達 0.6 nm(STEM 模式)

2. 探針電流:高達 300 nA

3. 加速電壓:20 -30 kV

材料要求

粉末、片狀樣品(長寬高控制在20*20*10mm內)

主要功能

及應用范圍

主要功能:主要用于觀察、分析記錄材料的微觀形貌特征以及對材料組成與結構分析。主要體現在:

1.具有高低真空兩種模式。

2.具有EDAX能譜與電子背散射衍射(EBSD)功能。

應用范圍:樣品的形貌分析、微區成份分析、微區取向、微觀織構分析、晶體結構分析、物相分析、實時三維表面形貌成像等。

測試項目

價格

非磁性樣品形貌觀察

140元/樣(含噴金)

磁性樣品形貌觀察

190元/樣(含噴金)

EDS 

100/2

非磁性樣品mapping

200元/樣

磁性樣品mapping

250元/樣

電子背散射衍射 (EBSD)

600元/樣

噴金免費;鍍鉑 100 元/次;鍍碳 60 元/次。