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JEM-2010高分辨透射電子顯微鏡(TEM)


儀器名稱

JEM2010高分辨透射電子顯微鏡(TEM

 

型號

日本電子 JEM-2010

主要規格

及技術指標

分辨率:點分辨率≤0.23nm,線分辨率=0.14nm

加速電壓:220kV放大倍率:50-150萬倍

最小束斑尺寸:TEM mode: 優于20nm  EDS/NBD/CBD mode: 優于1.0nm

主要功能

及應用范圍

1. 適應高分辨率、快速檢測和圖像分析等各種應用需求

2.空間分辨顯微ATR技術,可鑒別小到3微米的樣品微區域

3.高靈敏度液氮冷卻MCT檢測器,適用于微弱官能團檢測,特別適合原位表面吸附的測定

4. 配備原位吸附反應池,適合做吡啶吸附紅外光譜圖,COCO2表面吸附紅外光譜圖

測試項目

  價格

備注

無機氧化物納米材料形貌觀察

180/

含制樣、耗材,能譜+100元,電子衍射+100

磁性無機氧化物納米材料形貌觀察

190/

含制樣、耗材,電子衍射+150元,能譜+100

磁性無機氧化物納米材料高分辨觀察

550/

含制樣、耗材,電子衍射+150元,能譜+150

金屬、陶瓷樣品離子減薄制樣

700/

已預減到150微米以下

線掃

300/

磁性樣品800/

Mapping

450/

掃描時間3小時左右,如樣品掃描時間較長,按600/小時計費,磁性樣品800/小時

免費制樣為普通碳膜銅網,微柵銅網制樣+20元,超薄碳膜制樣+30