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FEI Tecnai G2 F20場發射透射電子顯微鏡(TEM)


儀器名稱

場發射透射電子顯微鏡

FEI Tecnai G2 F20

 

型號

FEI Tecnai G2 F20

主要規格

及技術指標

加速電壓:200kV
高分辨極靴 (S-TWIN)
點分辨率:0.24nm;線分辨率:0.14nm
STEM (HAADF)分辨率:0.19nm
電子束能量色散:<0.7eV
最大束流:>100nA1nm束斑最大束流:>0.5nA
樣品最大傾斜角:±40°
EELS (Gatan Enfina)能量分辨率:0.7eV
EDAX能譜儀 (EDS)5B~92U;能量分辨率:~130eV (Mn Ka)

材料要求

粉末或液體樣品

主要功能

及應用范圍

要用于無機材料微結構與微區組成的分析和研究,儀器的功能包括:
電子衍射:選區衍射、微束衍射、會聚束衍射
成像:衍襯像、高分辨像 (HREM)
微區成分:EDS能譜的點、線和面分析

測試項目

  價格

備注

無機氧化物納米材料形貌觀察

200/

含制樣、耗材,高分辨+100元,能譜+100元,電子衍射+100

磁性無機氧化物納米材料形貌觀察

500/

含制樣、耗材,高分辨+150元,電子衍射+150元,能譜+150

金屬、陶瓷樣品離子減薄制樣

700/

已預減到150微米以下

線掃

300/

磁性樣品800/

Mapping

450/

掃描時間3小時左右,如樣品掃描時間較長,按600/小時計費,磁性樣品800/小時

免費制樣為普通碳膜銅網,微柵銅網制樣+20元,超薄碳膜制樣+30