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掃描探針顯微鏡(SPI3800N)


儀器名稱

掃描探針顯微鏡

(SPI3800N

 

型號

日本精工

SPI3800N


主要規格

及技術指標

1. 分辨率:水平 0.1 nm垂直0.01 nm
2. 掃描范圍最大:100 μm2
3. 放大倍率: 1000 -1000000x
4. 高分辨率:三維圖象顯示

材料要求

二維原子薄膜、原子平整基底表面鍍膜的形貌表征和電、磁性能分析(長寬高控制在15 ╳ 15 2 mm內)

主要功能

及應用范圍

目前全球商用的唯一一款真正專業級高真空環境控制型SPM, 不但具備多功能掃描探針顯微鏡系統所有功能;而且掃描在封閉的Chamber中進行,可對測量的環境(高真空、高溫、低溫、液體、電化學等)進行控制;可實現AFMDFMSTMMFMEFMKFMC-AFM等功能,可連續變溫,溫度范圍:-120 - 800℃

測試項目

AFM、DFM表面形貌分析

MFM、FFM、EFM、KFM測試等

I-V、Force-Curve測試

薄膜樣品和需要制樣的固體樣品

可測試-120 - 800℃溫度區間內的數據