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原子力顯微鏡(AFM)


儀器名稱

原子力顯微鏡(AFM

 

型號

布魯克 MULTIMODE 8


主要規格

及技術指標

1. 分辨率:水平 0.2 nm,垂直0.01 nm

2. 極大掃描范圍:30μm×30μm×5μm

3. 放大倍率: 1000x -1000000x
4. 高分辨率:三維圖象顯示

材料要求


主要功能

及應用范圍

原子力顯微鏡具有材料形態、斷面形狀、平均剃度、粒度、表面的粗糙度等圖像處理和分析功能。 

收費標準

薄膜樣品           300元/樣  

固體需制樣樣品     350元/樣