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X射線光電子能譜(XPS)


儀器名稱

X射線光電子能譜(XPS

 

型號

賽默飛舍爾 

(Thermol scientific)

Escalab 250Xi


主要規格

及技術指標

1.能量分辨率和靈敏度(正常工作條件下):對Ag3d5/2峰,半峰寬優于0.45 eV時,計數率強度高于80 Kcps

2. 除了Mg靶外,配備了Al/Mg雙陽極X射線源,

可精確判定俄歇電子譜;

3.測試類型:XPS,刻蝕試驗,絕緣材料半導體材料(配備中和槍),線掃描,面掃描 角分辨率實驗,深度剖析實驗,REELs實驗(主要測定H元素),ISS離子散射實驗(同位素測定),UPS紫外電子能譜。5*5mm

主要功能

及應用范圍

可對樣品進行預處理(高真空、氮氣保護H2,空氣等不同氣氛的處理),原位的測定處理前后樣品的表面元素的分布及價態變化。

收費標準

280/樣品

1:不包括分峰擬合;2:關注5元素內,超出加收50-100元;氬離子清潔或刻蝕加請另咨詢)

檢測說明

XPS能譜儀通用測試條件:美國 Thermo ESCALAB 250XI

X光電子能譜(XPS):單色Al Ka (hv =1486.6 eV),功率150W , 500μm束斑

備注

如需關注元素的不同軌道請提前說明,如無說明,我們將按照儀器的默認軌道測試,完成后如需再測其他軌道按新樣品計費。