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X射線光電子能譜(AXIS ULTRA DLD)


儀器名稱

X射線光電子能譜

( AXIS ULTRA DLD )

 

型號

日本島津-Kratos公司

AXIS ULTRA DLD


主要規格

及技術指標

1. 大束斑slot模式下能量分辨率:優于0.48 eV/(Ag 3d5/2)@400 kcps;

2. 最小15μm分析區域下能量分辨率:優于0.50 eV/(Ag 3d5/2)@0.65 kcps;

3. 110μm分析區域下能量分辨率:優于0.50 eV/(Ag 3d5/2)@75 kcps;

4. 荷電中和系統:優于0.68 eV/(PET上O-C=O的C 1s)@15 kcps;

5. 空間分辨率:優于3 μm

材料要求

塊體試樣兩面盡量平整,易于放置在樣品臺上,尺寸小于15*15 mm2,厚度小于4mm;粉末試樣顆粒小,易于壓片或貼在膠帶

主要功能

及應用范圍

主要功能:利用光電效應的原理,測量輻射源(光子、電子、離子等)從樣品上打出來的光電子的動能、強度及其角分布,從而研究原子、分子、聚集相,尤其是固體表面的電子結構等。

應用范圍:用于各種有機和無機固體材料的表面元素和其價態的定性、定量分析,表面元素的化學成像及深度剖析。

測試項目

300元/樣 (5元素內超出加收50-100元,注:5元素中包括C)

其它要求另外商談。