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無機材料元素成分分析


我司擁有X射線光電子能譜(XPS),理學X射線衍射儀(XRD),帕納科X射線衍射儀(xrd),島津X射線熒光光譜(XRF)等設備,可對無機樣品成分和結構進行全方位分析

序號類別項目/參數
1X射線光電子能譜(XPS) 可對樣品進行預處理(高真空、氮氣保護H2,空氣等不同氣氛的處理),原位的測定處理前后樣品的表面元素的分布及價態變化。
2理學X射線衍射儀(XRD)X射線發生器功率為3KW
測角儀最小步進為1/10000度
步長:0.02
掃速:4度/分
3帕納科X射線衍射儀(XRD)功率:3Kw
測角儀重現性:0.0001度
發散度:<0.01度
最小步長<0.0001度
測角儀的精確度<0.0001度
4島津X射線熒光光譜(XRF)可進行固體、粉末、液體等多種樣品的定性分析和無需工作曲線的FP法定量分析。